PIFOC focus scanner for microscope objectives, high precision, fast step-and-settle, 100 µm, capacitive sensors, D-sub connector
P-725.xCDE2 PIFOC Focus Scanner for Microscope Objectives
Dynamic Scanning with Travel Ranges of 100 µm, 400 µm, or 800 µm
- Travel range 100 µm, 400 µm, or 800 µm
- Significantly faster response and longer lifetime than motorized drives
- Fine positioning of objectives with sub-nm resolution
- Direct position measuring with capacitive sensors: Highest linearity
- Large clear aperture with Ø 29 mm










Application fields
- Super-resolution microscopy
- Light disk microscopy
- Confocal microscopy
- 2-photon microscopy
- 3D imaging
- Screening
- Interferometry
- Measuring technology
- Autofocus systems
- Biotechnology
- Semiconductor inspection
Outstanding lifetime due to PICMA® piezo actuators
The PICMA® piezo actuators are all-ceramic insulated. This protects them against humidity and failure resulting from an increase in leakage current. PICMA® actuators offer an up to ten times longer lifetime than conventional polymer-insulated actuators. 100 billion cycles without a single failure are proven.
Subnanometer resolution with capacitive sensors
Capacitive sensors measure with subnanometer resolution without contacting. They guarantee excellent linearity of motion, long-term stability, and a bandwidth in the kHz range.
High guiding accuracy due to zero-play flexure guides
Flexure guides are free of maintenance, friction, and wear, and do not require lubrication. Their stiffness allows high load capacity and they are insensitive to shock and vibration. They work in a wide temperature range.
Specifications
Specifications
Motion | P-725.1CDE2 | P-725.4CDE2 | P-725.8CDE2 | Tolerance |
---|---|---|---|---|
Active axes | Z | Z | Z | |
Travel range in Z | 100 µm | 400 µm | 800 µm | +20 / -0 % |
Travel range in Z, open loop | 120 µm | 420 µm | 840 µm | ±20 % |
Linearity error in Z | < 0.03 % | < 0.03 % | < 0.03 % | |
Angular error around X | ± 10 µrad | ± 10 µrad | ± 50 µrad | |
Angular error around Y | ± 10 µrad | ± 45 µrad | ± 50 µrad | |
Positioning | P-725.1CDE2 | P-725.4CDE2 | P-725.8CDE2 | Tolerance |
Minimum incremental motion in Z | 1 nm | 4 nm | 5 nm | |
Point repeatabilitiy, 10% step, 1 sigma | 10 nm | 10 nm | 50 nm | |
Integrated sensor | Capacitive, direct position measuring | Capacitive, direct position measuring | Capacitive, direct position measuring | |
Sensor noise, 1 sigma | 0.2 nm | 0.2 nm | 0.8 nm | |
Position noise in Z | 0.1 nm | 0.1 nm | 0.4 nm | max. |
Settling time for 10% step in Z | 14 ms | 22 ms | 39 ms | ±10 % |
Drive Properties | P-725.1CDE2 | P-725.4CDE2 | P-725.8CDE2 | Tolerance |
Drive type | PICMA® | PICMA® | PICMA® | |
Electrical capacitance in Z | 3.2 µF | 6.4 µF | 12.8 µF | ±20 % |
Mechanical Properties | P-725.1CDE2 | P-725.4CDE2 | P-725.8CDE2 | Tolerance |
Stiffness in Z | 0.5 N/µm | 0.25 N/µm | 0.07 N/µm | ±20 % |
Resonant frequency in Z, unloaded | 680 Hz | 400 Hz | 230 Hz | ±20 % |
Resonant frequency in Z, under load with 150 g | 290 Hz | 175 Hz | 110 Hz | ±20 % |
Permissible push force in Z | 100 N | 100 N | 100 N | max. |
Permissible pull force in Z | 20 N | 20 N | 20 N | max. |
Guide | Flexure guide with lever amplification | Flexure guide with lever amplification | Flexure guide with lever amplification | |
Overall mass | 280 g | 280 g | 350 g | ±5 % |
Material | Stainless steel, aluminum | Stainless steel, aluminum | Stainless steel, aluminum | |
Objective diameter | 39 mm | 39 mm | 39 mm | max. |
Miscellaneous | P-725.1CDE2 | P-725.4CDE2 | P-725.8CDE2 | Tolerance |
Operating temperature range | 10 to 70 °C | 10 to 70 °C | 10 to 70 °C | |
Connector | D-sub 7W2 (m) | D-sub 7W2 (m) | D-sub 7W2 (m) | |
Cable length | 1.5 m | 1.5 m | 1.5 m | +50 / -0 mm |
Recommended controllers / drivers | E-709.1C1L - economic choice, suitable for most use cases; E-754.1CD - high performance choice for highest precision | E-709.1C1L - economic choice, suitable for most use cases; E-754.1CD - high performance choice for highest precision | E-709.1C1L - economic choice, suitable for most use cases; E-754.1CD - high performance choice for highest precision |
Linearity error in Z: Under laboratory conditions, a digital controller makes it possible to reduce the linearity error even further.
Settling time: 1% error band, 150 g load
Position noise: 1 sigma
The objective is not included in the scope of delivery.
At PI, technical data is specified at 22 ±3 °C. Unless otherwise stated, the values are for unloaded conditions. Some properties are interdependent. The designation "typ." indicates a statistical average for a property; it does not indicate a guaranteed value for every product supplied. During the final inspection of a product, only selected properties are analyzed, not all. Please note that some product characteristics may deteriorate with increasing operating time.
Downloads
Datasheet
Documentation
Installation Instructions P725UM0002
Thread Adapters for P-725.xCDE2 PIFOC Focus Scanners and P-725.xCDE1S PIFOC Scanner Systems
3D Models
3-D model P-725.xCDE2
Brochure
P-725 PIFOC® Portfolio
Piezobased Objective Focus Drive Series
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Tecnologia

Tecnologia PICMA®
Elevata affidabilità e lunga durata attraverso il processo di produzione brevettato per attuatori multistrato.

Sistemi con Guida a Flessione
Le Guide a Flessione realizzate da PI hanno dimostrato i loro punti di forza nei nanoposizionatori. Guidano l'attuatore piezoelettrico e garantiscono un movimento rettilineo senza inclinazione o spostamento laterale.

Controllori Digitali
La tecnologia digitale apre a diverse possibilità di miglioramento delle prestazioni nell'ingegneria di controllo che non sono possibili con la tecnologia analogica convenzionale.

Sensori Capacitivi
I sensori capacitivi sono il sistema metrologico prescelto per le applicazioni più esigenti di nanoposizionamento.
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Tomografia a Coerenza Ottica
Gli attuatori e i dispositivi piezo, quali i motori OEM PILine®, assicurano l'elevata precisione e stabilità di posizionamento richiesta dalla tomografia a coerenza ottica (OCT).

Microscopia Confocale
La microscopia confocale è utilizzata per identificare la struttura della superficie dei campioni spostando il piano focale, per esempio in dermatologia.

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Gli assi lineari allineano il fascio laser nel microscopio TIRF. Il posizionamento preciso dei campioni è possibile combinando due assi in XY.

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