Nella microscopia a fluorescenza a riflessione interna totale (TIRFM), il raggio laser colpisce la piastra di vetro di un vetrino da microscopio, una piastra per microtitolazione o una piastra di Petri con un angolo piatto per stimolare la fluorescenza.
Tuttavia, il campo elettromagnetico del raggio laser penetra nel volume del campione sull'altro lato della lastra di vetro e forma un campo evanescente con una profondità di penetrazione tra 100 e 200 nm. Grazie alla riduzione dell'area stimolata nella direzione Z, si ottiene una migliore risoluzione Z rispetto alla microscopia a campo largo standard o alla microscopia a fluorescenza confocale. Qui, la risoluzione Z è tipicamente di 500 nm. Questo è il motivo per cui la TIRFM viene utilizzata più frequentemente nella microscopia a fluorescenza come metodo di super risoluzione relativamente semplice e poco costoso.
Impostazione dell'Angolo Critico di Incidenza
Il raggio laser per la stimolazione della fluorescenza TIRF è accoppiato con questo scopo spostando verticalmente una gabbia di radiazione con specchio e lenti sul bordo dell'obiettivo ad un angolo specifico.
Ciò può essere fatto utilizzando due >> Stages Lineari di Precisione Q-545 Q-Motion®. Grazie al loro principio d'inerzia piezoelettrica, offrono un'elevata risoluzione di posizionamento con una precisione nanometrica, sono compatti e, soprattutto, poco costosi. Il controllo è fatto dal >> Elettronica di Controllo E-872.401.
- Design Compatto
- Elevata risoluzione di posizionamento nel range dei nanometri
- Posizionamento veloce
Posizionamento di Campioni con Elevata Precisione
Gli stage XY PILine® posizionano il campione sul piano rapidamente e con precisione al decimo di micrometro, controllati dal >> C-867 PILine® Motion Controller.
I sistemi piezoelettrici XYZ di alta precisione PInano® a basso profilo possono essere montati sugli stage PILine®, ad es. su un >> P-545.3R8S. Raggiungono una precisione di posizionamento di un nanometro in tutte e tre le dimensioni (x, y e z).
Al fine di ottenere immagini approfondite e rivelatrici, scansiona l'intero campione con passi nanometrici in direzione X e Y. Il movimento estremamente fine permette di effettuare misurazioni 3D in direzione Z e questo consente di realizzare lo spostamento di messa a fuoco associato. Inoltre, il PInano® offre un posizionamento silenzioso con un sistema molto veloce e affidabile >> Controllore E-727.
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Microscope Stage Configurator
Sample Stages and Holders for Inverted Microscopes
Nanopositioning for Microscopy
Fast, Compact, to the Nanometer
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