Nella microscopia a fluorescenza a riflessione interna totale (TIRFM), il raggio laser colpisce la piastra di vetro di un vetrino da microscopio, una piastra per microtitolazione o una piastra di Petri con un angolo piatto per stimolare la fluorescenza.

Tuttavia, il campo elettromagnetico del raggio laser penetra nel volume del campione sull'altro lato della lastra di vetro e forma un campo evanescente con una profondità di penetrazione tra 100 e 200 nm. Grazie alla riduzione dell'area stimolata nella direzione Z, si ottiene una migliore risoluzione Z rispetto alla microscopia a campo largo standard o alla microscopia a fluorescenza confocale. Qui, la risoluzione Z è tipicamente di 500 nm. Questo è il motivo per cui la TIRFM viene utilizzata più frequentemente nella microscopia a fluorescenza come metodo di super risoluzione relativamente semplice e poco costoso.

Impostazione dell'Angolo Critico di Incidenza

Il raggio laser per la stimolazione della fluorescenza TIRF è accoppiato con questo scopo spostando verticalmente una gabbia di radiazione con specchio e lenti sul bordo dell'obiettivo ad un angolo specifico.

Ciò può essere fatto utilizzando due >> Stages Lineari di Precisione Q-545 Q-Motion®. Grazie al loro principio d'inerzia piezoelettrica, offrono un'elevata risoluzione di posizionamento con una precisione nanometrica, sono compatti e, soprattutto, poco costosi. Il controllo è fatto dal >> Elettronica di Controllo E-872.401.

  • Design Compatto
  • Elevata risoluzione di posizionamento nel range dei nanometri
  • Posizionamento veloce

Posizionamento di Campioni con Elevata Precisione

Gli stage XY PILine® posizionano il campione sul piano rapidamente e con precisione al decimo di micrometro, controllati dal >> C-867 PILine® Motion Controller.
I sistemi piezoelettrici XYZ di alta precisione PInano® a basso profilo possono essere montati sugli stage PILine®, ad es. su un >> P-545.3R8S. Raggiungono una precisione di posizionamento di un nanometro in tutte e tre le dimensioni (x, y e z).

Al fine di ottenere immagini approfondite e rivelatrici, scansiona l'intero campione con passi nanometrici in direzione X e Y. Il movimento estremamente fine permette di effettuare misurazioni 3D in direzione Z e questo consente di realizzare lo spostamento di messa a fuoco associato. Inoltre, il PInano® offre un posizionamento silenzioso con un sistema molto veloce e affidabile >> Controllore E-727.

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Nanopositioning for Microscopy

Fast, Compact, to the Nanometer

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Microscope Stage Configurator

Sample Stages and Holders for Inverted Microscopes

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BRO70E R3D
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