Microscopio a Scansione a Raggi X con Risoluzione Impareggiabile
La Beamline P06 per Micro/Nano-Sonde a Raggi X Duri al PETRA III consente una visualizzazione avanzata con risoluzione spaziale micro/nanoscopica utilizzando diverse tecniche a raggi X. Nella hutch Nanoprobe, l'imaging a diffrazione coerente che applica schemi di scansione ptychographic consente di eseguire la microscopia a raggi X con una risoluzione spaziale aumentata fino alla gamma dei nanometri inferiori. A causa della straordinaria brillantezza della sorgente luminosa PETRA, le misurazioni potevano già essere effettuate con una risoluzione spaziale di soli 10 nm.
Scansione a Raggi X - Nessun Errore Consentito nel Posizionamento del Rilevatore
Per ottenere una così alta risoluzione con un microscopio a scansione a raggi X, tutti i singoli processi di posizionamento devono essere eseguiti con i migliori componenti disponibili. Per il posizionamento del rilevatore, ad esempio, era necessaria una sottostruttura XYZ con corse elevate. Nella parte superiore, questo sistema a tre assi supporta uno stage di rotazione su larga scala che permette di selezionare i diversi rivelatori che vengono utilizzati per le particolari tecniche a raggi X, motivo per cui le influenze delle vibrazioni e gli errori di inclinazione dovevano essere ridotti al minimo.
PI miCos ha progettato e consegnato lo stage XYZ che è stato realizzato in granito per garantire uniformità e stabilità a lungo termine, nonché il disaccoppiamento dalle interferenze ambientali quali le vibrazioni. Offre uno spostamento lineare di 2000 mm × 1000 mm × 100 mm mentre la deviazione complessiva della posizione è inferiore a 14 micrometri. L'errore di pitch consentito è stato limitato a 50 µrad su tutta la corsa di 2000 mm. La ripetibilità della posizione se si procede da diverse direzioni è di ±1 µm. La messa in servizio in loco e le operazioni di avviamento sono state effettuate da PI miCos.