Nuova Brochure "Nanopositioning for Microscopy"
Che si tratti di microscopia stereo classica, microscopia a fluorescenza, a campo ampio o laser, SEM, FIB-SEM, TEM, AFM o microscopia correlativa, posizionare campioni e obiettivi con precisione subnanometrica è un fattore determinante per la qualità dell'analisi microscopica.La nuova brochure di PI offre una panoramica completa dei sistemi di posizionamento ideali nello svariato campo della microscopia.
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